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三維光學輪廓儀

  • 產品型號:zeta-20
  • 更新時間:2025-02-12

簡要描述:zeta 三維光學輪廓儀(yi) :的三維成像和測量,多功能光學測試模組,多樣化的測試平台(手動、自動測試台)Z*的3D成像及測試係統 (為(wei) 用戶量身打造的表麵輪廓測量設備,是表麵量測領域的Z佳選擇 )。

產品詳情

型號:Zeta-20
產品:三維光學輪廓儀

品牌:Zeta澤塔

簡介:zui*的3D成像及測試係統 (為(wei) 用戶量身打造的表麵輪廓測量設備,是表麵量測領域的*選擇 )


三維光學輪廓儀(yi) 特點


◆ 功能齊全,操作簡易,用途廣泛的Zeta-20

 ZDotTM技術擅於對高粗糙度、低反射率的表麵進行成像分析

·具有防反射塗層的太陽能電池片
·圖形化/蝕刻的LED基板
·生物微機電、微機電係統和微流體(ti) 槽
·透明的多表麵樣品成像

快速獲取數據

·可配置快於(yu) 10秒掃一幅三維圖像的采集速度
·簡明易學的軟件操作界麵

 強大的三維分析功能

·台階高度、粗糙度、麵積、體積、角度及其它表麵屬性
·數據輸出格式與常見的第三方分析軟件可兼容
◆ 高度的靈活性

測量複雜的表麵特征

從(cong) 深槽到金剛石鋼線,Zeta-20強大的成像能力可對各種複雜表麵進行測量。通常這些表麵由於(yu) 太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設備測量。

選項配置齊全

在科研過程中所涉及的樣品表麵類型往往難以預測。因此,Zeta-20使用模塊化設計理念,為(wei) 用戶提供了一係列的硬件和軟件選項來滿足各種不同的測量需求。
·薄膜厚度光譜儀(yi)
·可測量納米級粗糙度的QDIC/Nomarski選項
·iX5幹涉物鏡
·Z軸分辨率高達2nm的壓電陶瓷載台
·傾(qing) 斜載台和真空吸附卡具
·自動特征提取和測量軟件
·自動表麵麵積測量、統計分析 ...以及其它眾(zhong) 多選項!



◆  特定行業的測量應用

太陽能電池片表麵分析:

·自動測量柵線的高度、寬度和體積
·單晶矽和多晶矽表麵麵積和絨麵分析
·氮化矽防反射層薄膜厚度測量
·多點、自動柵線測量
·156mm太陽能電池片真空吸附載台
LED 和圖形化藍寶石基板(PSS)分析
·自動測量PSS高度、尺寸和周期
·分析光阻和蝕刻後PSS特征
·自動定位和測量外延後Mesa的粗糙度
·適用於2"、4"和6"晶圓的真空載台
微流體和微機電的測量分析
·透明的多層表麵輪廓測量
·深槽、深井以及其它高縱深比的特征點測量
·靈活的、可自定義的橫截麵及測量點的設置
簡便、易用的測量方法
·自動載物台支持多點測量序列和三維圖像拚接
·自動坡度和波度補償
·自動將待測表麵調成水平
·自動測量高度、尺寸、角度、麵積和體積
·自動測量線粗糙度和麵粗糙度



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美國ZETA光學輪廓儀

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