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美國ZETA光學輪廓儀(yi)

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澤塔zeta 三維光學輪廓儀

產品型號：zeta-20
更新時間：2025-02-12

簡要描述：澤塔zeta 三維光學輪廓儀(yi) ：的三維成像和測量，多功能光學測試模組，多樣化的測試平台（手動、自動測試台）
Z*的3D成像及測試係統（為(wei) 用戶量身打造的表麵輪廓測量設備，是表麵量測領域的Z佳選擇）
從(cong) 深槽到金剛石鋼線，Zeta-20強大的成像能力可對各種複雜表麵進行測量。通常這些表麵由於(yu) 太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設備測量。

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產品詳情

型號：Zeta-20

產品：澤塔zeta 三維光學輪廓儀

品牌：Zeta澤塔

簡介：zui*的3D成像及測試係統（為(wei) 用戶量身打造的表麵輪廓測量設備，是表麵量測領域的*選擇）

特點

◆ 功能齊全，操作簡易，用途廣泛的Zeta-20

ZDotTM技術擅於對高粗糙度、低反射率的表麵進行成像分析

  ·具有防反射塗層的太陽能電池片
  ·圖形化/蝕刻的LED基板
  ·生物微機電、微機電係統和微流體(ti) 槽
  ·透明的多表麵樣品成像

快速獲取數據

·可配置快於(yu) 10秒掃一幅三維圖像的采集速度
·簡明易學的軟件操作界麵

強大的三維分析功能

·台階高度、粗糙度、麵積、體積、角度及其它表麵屬性
·數據輸出格式與常見的第三方分析軟件可兼容

◆ 高度的靈活性

測量複雜的表麵特征

從(cong) 深槽到金剛石鋼線，Zeta-20強大的成像能力可對各種複雜表麵進行測量。通常這些表麵由於(yu) 太粗糙、太暗或是坡度太陡而無法用其它設備測量。

選項配置齊全

  在科研過程中所涉及的樣品表麵類型往往難以預測。因此，Zeta-20使用模塊化設計理念，為(wei) 用戶提供了一係列的硬件和軟件選項來滿足各種不同的測量需求。
  ·薄膜厚度光譜儀(yi)
  ·可測量納米級粗糙度的QDIC/Nomarski選項
  ·iX5幹涉物鏡
  ·Z軸分辨率高達2nm的壓電陶瓷載台
  ·傾(qing) 斜載台和真空吸附卡具
  ·自動特征提取和測量軟件
  ·自動表麵麵積測量、統計分析 ...以及其它眾(zhong) 多選項！

◆ 特定行業的測量應用

太陽能電池片表麵分析：

  ·自動測量柵線的高度、寬度和體積
  ·單晶矽和多晶矽表麵麵積和絨麵分析
  ·氮化矽防反射層薄膜厚度測量
  ·多點、自動柵線測量
  ·156mm太陽能電池片真空吸附載台

LED 和圖形化藍寶石基板(PSS)分析

  ·自動測量PSS高度、尺寸和周期
  ·分析光阻和蝕刻後PSS特征
  ·自動定位和測量外延後Mesa的粗糙度
  ·適用於2"、4"和6"晶圓的真空載台

微流體和微機電的測量分析

  ·透明的多層表麵輪廓測量
  ·深槽、深井以及其它高縱深比的特征點測量
  ·靈活的、可自定義的橫截麵及測量點的設置

簡便、易用的測量方法

  ·自動載物台支持多點測量序列和三維圖像拚接
  ·自動坡度和波度補償
  ·自動將待測表麵調成水平
  ·自動測量高度、尺寸、角度、麵積和體積
  ·自動測量線粗糙度和麵粗糙度

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